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太陽能教學實驗臺中關于硅材料檢測測試平臺

2014-10-28 [2063]

 我司的太陽能教學實驗臺當中,有專業(yè)進行硅材料檢測方面的試驗臺。可以用于硅材料檢測的一些實訓項目,可以用于一些硅材料技術、光伏材料加工及應用技術專業(yè),此太陽能教學實驗臺設計精密,可以根據(jù)常用的一些測試項目,進行一些硅片或則相關制品的電學性能測試,該實訓臺可開展的實訓項目有:

 

         一、導電性能測試: 

         此太陽能教學實驗臺進行導電性能測試的原理是:通過半導體與冷、熱探筆接觸后,由于載流子的熱運動與溫度有關,熱區(qū)的載流子熱運動速度大,冷區(qū)熱運動速度小,因此在冷、熱兩端形成空穴或自由電子的濃度差,從而產(chǎn)生溫差電動勢來測量。

 

         二、進行四探針法測試硅單晶電阻率:

         四探針法用針距約為1mm的四根探針同時壓在硅單晶樣品的平整表面上,利用恒流源給外面兩根探針通以電流,然后在中間兩根探針上用電位差計測量電壓降,然后根據(jù)推導簡化   公式,其中四根探針排列在同一條直線上,間距相等,此時探針系數(shù)就是一個常數(shù)。

 

         在實際測量工作中,為了計算方便,常常令電流I在數(shù)值上與探針系數(shù)C相等,即I=C,于是ρ=V23,此時探針23之間測得電位差在數(shù)值上就等于樣品的電阻率。

 

          三、少子壽命的測試:

          太陽能教學實驗臺采用電脈沖以及光脈沖的方法,從半導體內(nèi)激發(fā)非平衡載流子,調(diào)節(jié)了半導體的體電阻,電導率增加,樣品的電阻減小,因此樣品上流過的高頻電流的幅值增加,通過測量體電阻或串聯(lián)電阻兩端電壓的變化規(guī)律來觀察半導體材料中的非平衡少數(shù)載流子的衰減規(guī)律,從而測定其壽命。

 

聯(lián)


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